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langer朗格尔E 1 抗干扰开发系统
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E1 抗干扰开发系统说明
E1 抗干扰开发系统是电子研发工程师对组件进行快速瞬变脉冲群（Burst）和静电放电（ESD）等脉冲抗干扰测试的成熟工具。利用该工具，可以对模块进行小空间范围内的抗干扰度分析。在对受试设备（EUT）的抗干扰分析中，能够选择性地给部分模块或部分路段注入干扰电流（干扰电流路径），以及能够对其表面的选定区域施加电脉冲场（E 场）或磁脉冲场（H 场）正是快速、准确定位薄弱点的关键。另外，使用本系统还可以在施加脉冲干扰的同时，进行无反作用的光纤信号监测。
E1 干扰发射开发系统的着重点是对系统开发过程的支持。利用 E1 系统，开发人员可以在工作场地排查设备/组件的干扰问题，或者通过了解干扰问题的直接原因，测量评估修改措施的效果，增强设备/组件的抗干扰度。
E1 抗干扰开发系统不能用来进行标准兼容性测试，但是按照 IEC 61000-4-4 和 IEC 61000-4-2 标准对组件进行抗干扰的测试结果，是使用 E1 系统进行抗干扰测试的良好基础。通用脉冲群发生器产生的标准干扰信号被耦合到输入端，并通过地线回流到发生器。这些脉冲状的干扰信号流过设备组件的路径是未知的。在设备当中，未知的部分干扰信号流入某个未知的接受载体而产生功能故障。这个薄弱点的位置往往仅局限在组件上几平方厘米的范围内，但是通过标准测试方法很难对其定位。开发人员还不知道，是否是干扰电流及其磁场以及在什么位置导致导线回路中产生感应电压脉冲，或者电场容性耦合进入了敏感线路。
如果设备通不过标准测试，其*重要的测试结果是关于功能故障类型的详细信息。但是仅凭借这些故障信息尚无法具体定位受试设备中的薄弱点。所以，建议先对受试设备进行标准的抗干扰测试，确定可能的故障现象，然后开发人员根据这些故障现象，在产品开发场地利用 E1 系统定位
故障点及分析故障原因，给出排除干扰问题、设计修改等解决办法，并使用 E1 开发系统，评估各项修改措施的有效性。
借助 E1 系统，开发人员可以显著节约产品开发时间、降低开发成本。
Langer BS 02
Langer BS 04DB
Langer BS 05DU
Langer BS 05D
Langer ES 00
Langer ES 01
Langer ES 02
ES 05D
ES 08D
SGZ 21
S21
HFW 21 RF
HFA 21 RF
RF-U 5-2
MFA-K 0.1-12
Langer A100-1
langerA100-2
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Langer RF-U 2.5-2
Langer F-E 05
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